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型號:

鍍銀層測厚儀XD-1000

描述:鍍銀層測厚儀XD-1000采用下照式:適合平面樣品的鍍層測試需求;準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足不同樣品材質和形狀的檢測;移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點;高分辨率探測器:提高分析的準確性;新一代的高壓電源和X光管:性能穩定可靠,高達100W的功率實現更高的測試效率。

  • 廠商性質

    經銷商
  • 更新時間

    2025-05-19
  • 訪問量

    1040
詳細介紹
品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池,包裝/造紙/印刷

鍍銀層測厚儀XD-1000應用領域

 

鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu,□Fe/Ni,□Fe/Cu/Sn,□Fe/Cu/Au,□Fe/Cu/Ni,□Fe/Cu/Ni/Cr,        
  □Fe/Cu/Ni/Au,□Fe/Cu/Ni/Ag銅基----□Cu/Ni,□Cu/Ag,□Cu/Au,□Cu/Sn,□Cu/Ni/Sn,□Cu/Ni/Ag,□Cu/Ni/Au,□Cu/Ni/Cr鋅基----□Zn/Cu,□Zn/Cu/Ag,□Zn/Cu/Au鎂鋁合金----□Al/Cu,□Al/Ni,□Al/Cu/Ag,□Al/Cu/Au塑膠基體----plastic/Cu/Ni,plastic/Cu/Ni/Cr

 

性能特點

 

鍍銀層測厚儀采用下照式:適合平面樣品的鍍層測試需求;準直器和濾光片:多種準直器和濾光片的電動切換,滿足不同樣品材質和形狀的檢測;移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點;高分辨率探測器:提高分析的準確性;新一代的高壓電源和X光管:性能穩定可靠,高達100W的功率實現更高的測試效率。

 

鍍銀層測厚儀XD-1000技術參數  

 

1   分析元素范圍:S-U

2   同時可分析多達3層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達0.01μm

4   多次測量重復性可達0.05μm

5   定位精度:0.5mm5   測量時間:30s-300s

6   計數率:1300-8000cps

7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.01—30um,在這個范圍內,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。

 


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